双区热冲击试验箱，带升降传输

使用Sonacme最高效的热冲击解决方案，加速您的可靠性测试。该设备专为IC芯片和小型化产品等高价值电子元件设计，采用独特的双区独立设计（热区和冷区），配备升降篮。该系统可实现超快速样品转移，产生精确的热冲击，以无与伦比的精度揭示组件和部件中的隐藏缺陷。

法规合规性与效率符合最严格的行业标准：Mil-Std 810、Mil-Std 883、IEC 60068-2-14和JEDEC。融入我们的低GWP（全球变暖潜能值）技术，结合R-449A制冷剂，可实现高达40%的节能，在不影响性能的情况下减少碳足迹。

坚固结构与精准工艺

• 耐用性：SUS#304不锈钢内胆（1.2mm），全焊接确保完美密封；冷轧钢板外壳，经防刮处理。
• 保温：100mm厚聚氨酯泡沫确保热稳定性。
• 制冷系统：采用世界领先压缩机品牌，如Tecumseh（法国）、Bitzer或GEA BOCK（德国）。管道弯曲技术减少连接点，优化制冷剂流动。
• 电气可靠性：电气面板按英国标准组织，使用施耐德电气、三菱和Carlo Gavazzi等顶级组件。每条线路均有编码，便于快速安全维护。
• 智能控制：配备Sonacme自主研发的控制器，提供直观界面，实现精确的循环管理。

关键规格

• 温度范围：高温：+60至+200°C / 低温：选项A：-40°C、B：-55°C、C：-65°C至0°C。
• 负载能力：30 kg至100 kg，取决于型号（50L至1000L）。
• 观察窗：双层设计，含4块钢化玻璃和防雾系统，确保低温测试时清晰可见。

凭借Sonacme的精准技术，优化您的质量控制，加速电子产品的上市时间。