简介
BDDZ半导体屏蔽层电阻率测试设备按照国家标准GB/T12706和GB/T11017等设计。该设备适用于测量电缆和电线中半导体屏蔽层的电阻，满足GB/T12706和GB/T11017标准中规定的具体要求。为根据这些标准进行测试，需使用BDDZ半导体屏蔽层电阻率测试仪、电缆制样机和恒温干燥箱来完成测试过程。
标准：
- GB/T12706
- GB/T11017
技术参数：
- 测量范围：2MΩ、200KΩ、20KΩ、2KΩ、200Ω（五个量程）
- 输出电流：1μA、10μA、100μA、1mA、10mA
- 测量误差：小于±（0.5%读数±2个字）
- 仪器配备四位数码显示屏，直接显示样品半导体屏蔽层的电阻值
- 设备特点：精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便，完全符合GB/T12706和GB/T11017标准
规格：
- 外形尺寸：350×300×250 mm
- 电源：AC220V 50/60Hz 0.5A
- 恒温干燥箱（用户可选配）
- 电缆制样机（用户可选配）
商店
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