🔥 双区热冲击试验箱 | 快速准确的电子元件测试

SONACME 双区热冲击试验箱

使用我们的双区热冲击试验箱，确保您的电子元器件拥有最高品质。该设备专为模拟剧烈温度变化而设计，可检测IC芯片和电子组件等产品的故障。

✅ 双独立温区：一个高温区（+60°C至+200°C）和一个低温区（可低至-65°C），实现快速转换。

✅ 符合国际标准：MIL-STD 810、MIL-STD 883、IEC 60068-2-14等。

✅ 高效技术：R-449A制冷剂，低GWP（全球变暖潜能值），节能40%。

✅ 坚固设计：

• SUS304不锈钢焊接结构（1.2 mm）。
• 聚氨酯泡沫保温层（100 mm）。
• 防霜加热观察窗。
• ✅ 高端组件：Tecumseh（法国）或Bitzer（德国）压缩机，DANFOSS和SAGLNOMIYA阀门，Schneider电子元件。

关键规格：

• 可选型号：容量从50L到1000L。
• 温度范围：-65°C至+200°C。
• 最大负载：最高100 kg（视型号而定）。

您需要确保产品能够承受极端温度变化吗？

📌 立即咨询此试验箱报价，了解它如何优化您的质量测试！

使用SONACME技术装备您的实验室，以可靠的测试结果缩短测试时间。