Semiconductor shield resistivity testing equipment BDDZ

El equipo de prueba de resistividad para escudos semiconductores BDDZ está diseñado conforme a las normas nacionales GB/T12706 y GB/T11017, entre otras. Este equipo es ideal para medir la resistencia del escudo semiconductor en cables y alambres, cumpliendo con los requisitos específicos establecidos en las normas GB/T12706 y GB/T11017. Para realizar pruebas de acuerdo a estas normativas, el proceso se lleva a cabo utilizando el probador de resistividad de escudo semiconductor BDDZ, una máquina para fabricar muestras de cable y un horno termostático.

Estándares:

• GB/T12706
• GB/T11017

Parámetros técnicos:

• Rango de medición: 2MΩ, 200KΩ, 20 KΩ, 2 KΩ, 200Ω (cinco niveles)
• Corriente de salida: 1uA, 10μA, 100μA, 1mA, 10mA
• Error de medición: Menor a ± (0,5 % rd ± 2d)
• El instrumento cuenta con una pantalla digital de cuatro dígitos que muestra directamente el valor de resistencia del escudo semiconductor de la muestra
• Características del equipo: alta precisión, buena estabilidad, estructura compacta, facilidad de uso, y total cumplimiento con los estándares GB/T12706 y GB/T11017

Especificaciones:

• Dimensiones: 350×300×250 mm
• Alimentación: AC220V 50/60Hz 0.5A
• Horno (opcional para el usuario)
• Máquina para fabricación de muestras de cable (opcional para el usuario)