Équipement pour tester la résistivité du blindage semi-conducteur BDDZ

L'équipement de test de résistivité pour les écrans semi-conducteurs BDDZ est conçu conformément aux normes nationales GB/T12706 et GB/T11017, entre autres. Cet équipement est idéal pour mesurer la résistance de l'écran semi-conducteur dans les câbles et fils, répondant aux exigences spécifiques établies dans les normes GB/T12706 et GB/T11017. Pour effectuer des tests conformément à ces normes, le processus est réalisé à l'aide du testeur de résistivité d'écran semi-conducteur BDDZ, d'une machine pour fabriquer des échantillons de câble et d'un four thermostatique.

Normes :

• GB/T12706
• GB/T11017

Paramètres techniques :

• Plage de mesure : 2MΩ, 200KΩ, 20 KΩ, 2 KΩ, 200Ω (cinq niveaux)
• Courant de sortie : 1uA, 10μA, 100μA, 1mA, 10mA
• Erreur de mesure : Inférieure à ± (0,5 % rd ± 2d)
• L'instrument dispose d'un écran numérique à quatre chiffres qui affiche directement la valeur de résistance de l'écran semi-conducteur de l'échantillon
• Caractéristiques de l'équipement : haute précision, bonne stabilité, structure compacte, facilité d'utilisation, et conformité totale avec les normes GB/T12706 et GB/T11017

Spécifications :

• Dimensions : 350×300×250 mm
• Alimentation : AC220V 50/60Hz 0.5A
• Four (optionnel pour l'utilisateur)
• Machine pour la fabrication d'échantillons de câble (optionnel pour l'utilisateur)